图1.光学成像系统最大分辨率示意图。USAF 1951分辨率测试靶根据美军标MIL-STD-150A设计制作，不同分辨率单元使用对应的组和元素标记，该表数据可下式计算得出：可以通过查表得出它的每个元素对应的分辨率，USAF 1951分辨率测试靶的十组线对的分辨率如表1所示。表1 USAF 1951分辨率测试靶的十组线对的分辨率（lp/mm）...
光学系统实际分辨率通常采用如图3-刎所示的鉴别率板来测量。鉴别率板上沿不同的方向分布着各种不同分辨率的明暗条纹,将其置于光学系统的物面上,然后从像面上找出系统能够清晰分辨的分辨率最高(间距最小的明暗条纹),则该条纹对应的分辨率就是光学系统的实际分辨率。 采用分辨率评价光学系统的成像质量,具有指标单一、便于...
中图仪器VT6000高分辨率显微镜共聚焦光学测量系统以转盘共聚焦光学系统为基础,基于光学共轭共焦原理,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成高精度测量系统。能在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析。一般用于略粗
“基于图像的测量系统不断要求提供更高的成像分辨率,以采集任何形状或尺寸的设备的更精确、更关键的细节特征,”瑞淀光学系统首席执行官Doug Kreysar表示,“对于最有效的测量解决方案而言,目标是通过单个图像采集到整个被测设备,并且能够测量该设备的所有组成特征。提高分辨率有助于我们评估更大的区...
,采用ADI公司高 速视频处理芯片ADSP—BF561,结合视频解码和视频编码技术,设计并完成了一种新型的光学测量系统.实验结果表明,基于实序列IFFT运算及双核并 行处理的软件设计提高了系统的信号处理速度.该系统对一帧图像(180×512)进行处理需要的时间约为16ms,纵向分辨率达到21.4μm,可实现对 样品深度的高分辨率快速测量...
1.一种激光近场分辨率测量用4f光学系统,其特征在于:所述激光近场分辨率测量用4f光学系统包括对入射光起准直作用的准直元件、对入射光起会聚作用的会聚元件以及探测器;所述准直元件、会聚元件以及探测器依次设置于同一光轴上。 2.根据权利要求1所述的激光近场分辨率测量用4f光学系统,其特征在于:所述准直元件是正...
像素分割方法解决了每个显示器像素的成像传感器分辨率受到限制的测量场景,使得基于图像的测量系统甚至能够基于单个图像继续准确地测量和校正如今的高分辨率显示器。 分割配准。第一步是优化像素配准。正如我们前面所讨论的,传统的测量方法将ROI与测量系统的传感器像素阵列进行对位。然而,随着显示...
主权项: 一种激光近场分辨率测量用4f光学系统,其特征在于:所述激光近场分辨率测量用4f光学系统包括对入射光起准直作用的准直元件、对入射光起会聚作用的会聚元件以及探测器;所述准直元件、会聚元件以及探测器依次设置于同一光轴上。收藏 引用 批量引用 报错 分享 ...
摘要 本实用新型涉及一种在激光近场分辨率测量用的4f光学系统,该激光近场分辨率测量用4f光学系统包括对入射光起发散作用的发散元件、对入射光起会聚作用的会聚元件以及探测器;发散元件、会聚元件以及探测器依次设置于同一光轴上。本实用新型提供了一种测量精度高、结构简单以及使用方便的激光近场分辨率测量用4f光学系统...
谢谢你，有时间找书看看，我学机械的，你这里能不能用简单的言语先给咱描述一下啊，谢谢小伙伴！！