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光学检测仪器及设备的税率为:13 光学检测仪器及设备的税务编码为:109061601 光学检测仪器及设备简称:光电测量仪器 说明:包括氦质谱检漏台、半导体器件光学检验仪器、光学或分度尺比较仪、光学表面检查仪、光学测角仪或角规、比长仪工作台、干涉仪、校直望远镜、光学尺、测微读数装置、焦距计、其他光学检...
光学检测仪器及设备的税率为:13% 光学检测仪器及设备的税务编码为:109061601 光学检测仪器及设备简称:光电测量仪器 说明:包括氦质谱检漏台、半导体器件光学检验仪器、光学或分度尺比较仪、光学表面检查仪、光学测角仪或角规、比长仪工作台、干涉仪、校直望远镜、光学尺、测微读数装置、焦距计、其他光学检测仪器及设备...
4116010800校直望远镜用于检验工作台或机器导轨的直线度及测量金属结构 4116010900光学尺指用于测量平面误差的光学尺 4116011000测微读数装置 4116011100焦距计用于测量眼镜片焦距 4116019900其他光学检测仪器及设备包括具有框架及工作台、观测显微镜、两台测微显微镜及投影装置的测量工作台、其他光学观察设备...
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KLA-Tencor Candela CS20 系列光学表面分析仪 (OSA) 可对半导体与光电子材料进行先进的表面检测。CS20 系列检测能够为硅 (Si)、砷化镓 (GaAs)、磷化铟 (InP) 等不透明基板,以及碳化硅 (SiC)、氮化镓 (GaN)、蓝宝石和玻璃等透明材料的检测提供工艺控管和良率改善。
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KLA-Tencor Candela CS20 系列光学表面分析仪 (OSA) 可对半导体与光电子材料进行先进的表面检测。CS20 系列检测能够为硅 (Si)、砷化镓 (GaAs)、磷化铟 (InP) 等不透明基板,以及碳化硅 (SiC)、氮化镓 (GaN)、蓝宝石和玻璃等透明材料的检测提供工艺控管和良率改善。
高精度光学干涉视觉检测仪器,是一种采用光学成像,对物体表面进行瑕疵检测和特征识别的设备。设备整体布置在光学平台上,平台上的待测台是透明的,上方布置光源和相机组件,布置在可垂直升降的导轨上,实现垂直方向的移动。