侧向力显微镜的应用 、磁力显微镜均属于扫描探针显微镜。 1. 原理 探针扫描时悬臂的偏折量可以回馈成高度变化的影像,但是扫描的同时会有摩擦力的产生,而且摩擦力会造成探针悬臂的左右扭曲(图7-1),所以利用侦测悬臂的扭曲量我们可以得知试片表面摩擦力的分布 ,此为接触式原子力显微术的应用。 图7-1侧向力显微镜原理...
磁力显微镜(MFM)是一种先进的原子力显微方法,它可以对样品表面的局部磁场区域进行表征,通常被用于磁性薄膜材料、磁斯格明子、磁涡和其他纳米材料磁学特性的研究。MFM的测量非常依赖磁学AFM探针。传统情况下,MFM探针是通过在非磁性探针上沉积磁性材料而实现的。然而,这种方法所制备的MFM探针存在着侧向分辨率低和磁性材料涂层...
v 观察组织细胞内部超微结构应选用哪种电镜 ( ) vA.原子力显微镜B.透射电镜C.扫描电镜 vD.磁力显微镜E.侧向力显微镜
侧向力显微镜(Lateral force Microscope, LFM) LFM 的作用方式主要是使探针与样品表面相接触并在表面上平移,利用探针移动时所承受样品表面摩擦力以及样品表面高低起伏造成悬臂的偏斜量来探知样品的材质与表面特性。图6 的样品是在硅表面放置的单层Langmuir-Blod gett (LB)影片。它通过在每条扫描线(快速的扫描方向)从...
侧向力显微镜(LFM) 2) MFM 磁力显微镜 1. Study on the effect of oblique sputtering on TbFe thin films byMFM; 利用磁力显微镜研究倾斜溅射对TbFe薄膜磁性能的影响 2. Through the sample surface analysis by Atomic Force Microscope (AFM) and Magnetic Force Microscope (MFM), it is showed that the co...
磁力显微镜(MFM)是一种先进的原子力显微方法,可以对样品表面的局部磁场区域进行表征,通常被用于磁性薄膜材料、磁斯格明子、磁涡和其他纳米材料磁学特性的研究。MFM的测量非常依赖磁学AFM探针。传统情况下,MFM探针是通过在非磁性探针上沉积磁性材料而实现的。然而,这种方法所制备的MFM探针存在着侧向分辨率低和磁性材料涂层界...