芯片闩锁基本测试方法包括:提高器件的电源电压,观察电源电流变化来判断触发电平;施加10V电源电压,模拟正常工作状态下电干扰引起的触发,根据电源电流变化判断电信号电平;利用扫描电镜的电子束感生电流像对CMOS IC进行分析,确定闩锁具体通路。您可以根据实际情况选择合适的方法进行测试。
1.一种闩锁测试方法,其特征在于,包括: 执行一设定操作,以从一测试区间所涵盖的多个测试值中择一作为一基准测试值,并利用该基准测试值设定一触发脉冲与一预设误差值,该基准测试值将该测试区间划分成一第一子区间与一第二子区间; 利用该触发脉冲测试一待测晶圆中的一测试芯片,以取得至少一侦测信号; 依据该至少一侦...
3. 按下测试设备的启动按钮,测试设备将自动进行测试并记录测试结果。 4. 根据测试结果进行判断,如果测试结果合格,则闩锁可以正常使用,否则需要进行进一步的维修和测试。 三、常见闩锁故障及解决方法 1. 闩锁无法正常开启或关闭。 这通常是由于闩锁一个或多个部件损坏或缺失造成的...
EIAJESD78A-2006闩锁测试方法-20090513
9.一种用于检测芯片闩锁效应的测试方法,基于权利要求1～8所述的测试系统,其特 征在于,所述测试方法的具体步骤如下: 步骤一、搭建测试环境,将PCB板、稳压电源和万用表连接起来; 步骤二、使用万用表串联连接待测芯片的电源管脚; 步骤三、将待测芯片插入PCB板上的待测设备插座,选择待测PIN; 步骤四、将稳定电源...
1、一种CMOS电路的闩锁效应测试方法,其特征在于:所述测试方法可用于测试CMOS集成电路的触发电压/电流、维持电压/电流的准确数值和二次击穿电压/电流抗闩锁能力参数,测试时首先将待测器件所有的输入端连接到地,输出端悬空,然后按如下步骤进行: A、首先对待测端进行直流电压扫描测试,直到待测端对地导通,得到待测端的...
在实际使用过程中，医疗机构也可以利用这种设备对病床护栏闩锁进行定期的性能检测和评估。通过定期的检测和评估，可以及时发现潜在的安全隐患并及时进行维修或更换，从而确保患者在使用病床护栏时的安全。总之，医用病床护栏闩锁疲劳试验机是一种重要的测试设备，对于评估医用病床护栏闩锁的耐久性和可靠性具有重要意义。通过...
摘要 一种CMOS电路的闩锁效应测试方法,可用于测试CMOS集成电路的触发电压/电流、维持电压/电流的准确数值和二次击穿电压/电流抗闩锁能力参数,测试时首先将待测器件所有的输入端连接到地,输出端悬空,再按如下步骤进行:首先,对待测端进行直流电压扫描测试,直到待测端对地导通,得到待测端的触发电压Von;然后,对待测端进...
1、一种CMOS芯片的闩锁效应测试方法,其特征在于,所述芯片具有电源管脚、接地管脚、输入管脚、输出管脚及悬空焊垫,所述方法包括以下步骤: 将待测芯片的电源管脚和输入管脚上电;所述输入管脚包括:时钟管脚、重启管脚、测试模式管脚,及其他处于输入状态的I/O管脚; 确定待测芯片的被测管脚; 通过重启管脚,将待测芯片重...
所述方法包括:当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时,以单粒子闩锁维持电流作为待测器件的输入电流的初始值,逐次减小输入电流;记录在各输入电流下、待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长;并根据各输入电流和所用时长,建立待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线;获取处于下一种离子束...