美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电...
高频光电导少子寿命测试仪LT-1高频光电导少数载流子寿命测试仪 北京佳航博创科技有限公司4年 月均发货速度:暂无记录 北京市通州区 ¥24600.00 单晶少子寿命测试仪LT-2型 北京佳航博创科技有限公司4年 月均发货速度:暂无记录 北京市通州区 授权可见 少子寿命测试仪迁移率(霍尔)测试仪晶圆电阻率硅片电阻率测试仪 ...
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◇ 寿命范围:20 ns至100 ms(样品电阻率 > 0.3 Ohm cm) ◇ SEMI标准:PV9-1110 ◇ 测试速度:线扫描 < 30 s;完整的面扫秒 < 5 min ◇ 同时测量:寿命μPCD/MDP(QSS)和电阻率 ◇ 自动几何形状识别: G12、M10晶砖和晶圆片 应用: ◇ 寿命 & 电阻率面扫描 ...
一、少子寿命测试仪仪器简介: 从匈牙利Semilab公司引进,主要应用于半导体/光电/光伏材料(单晶/多晶硅片及硅锭)的工艺控制及测试手段。通过测量少子寿命,可做出晶体生长及工艺过程引入的缺陷图及硅片中的Fe元素污染图。仪器主要功能有微波光电导衰减法测少子寿命,光诱导电流测试,无接触方块电阻测试,涡流场体电阻率测试,Fe...
美国sinton少子寿命测试仪WCT-120,Suns-VocSinton instruments 少子寿命测试仪 硅片少子寿命测试系统 wct-120硅片少子寿命测试系统 少子寿命测试仪性能参数:1. 测量原理:QSSPC(准稳态光电导);2. 少子寿命测量范围:100 ns-10 ms;3. 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析;4. 电阻率测量范围:3–600 (undoped) Ohms...
在众多的少子寿命测量方法中,MDP(微波检测光电导率)采用改进的少子寿命检测技术,是微波检测光电导衰减法检测仪中常用的仪器之一,少子寿命测试仪原理从载流子输运原理出发,建立广义速率方程和偏微分方程系统。拥有先进的灵敏度和分辨率,很大程度提升在线检测的速度和质量,快速出具少子寿命测试的实验报告。 MDPlinescan被设计...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪浙江大学,中山大学,浙江师范大学,卡姆丹克太阳能,南玻光伏,荣马新能源,山东润峰电力,宁波金乐太阳能,宁波富星太阳能,晶澳太阳能,海润光伏,常州比太,苏州阿特斯,腾晖电力,中国科学院电工研究所,吉富新能源,精曜科技等等。
美国Sinton Instruments的WCT-120少子寿命测试仪是一款在线硅片寿命测试工具,其标准附属设备Suns-Voc可以量测形成PN结后的样品在不同辐照强度下的开路电压值以及通过内建模型计算出样品的最大IV特性参数。 WCT-120的技术参数包括: 1. 符合SEMI最新光伏产品少子寿命量测标准,SEMI PV13-0211标准。