原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台AFM（atomic force ...
原子力显微镜,原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于...
AFM=Atomic Force MicroscopeA. FM=Atomic Force Microscope(原子力显微镜)。原子力显微镜与扫描隧道显微镜相比,由于能观测非导电样品,因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和工业界广泛使用的扫描力显微镜(Scanning Force Microscope),其基础就是原子力显微镜。 AFM的原理: 当原子间距离减小到一定程度以后,原子间的...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器,具有原子级别的识别能力,可以在多种环境下(空气或者具有溶液的环境下)对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测,包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。 目前,AFM(原子力显微镜)已广泛应用于各个...
原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM）利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针受品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。 原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，研究物质的表面结构及性质，以纳米级分辨率获得表面结构信息。原子力显微镜AFM的关键组成部分...
一、 什么是AFM AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜技术,由Gerd Binnig、Heinrich Rohrer和Calvin Quate于1986年共同发明。AFM利用微悬臂上的尖细探针与样品表面之间的相互作用力来探测样品的表面形貌和物理性质,具有原子级的分辨率。
百度试题 题目原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)也称( ),是由IBM苏黎士研究实验室的Gerd Binning、Calvin Quate和Christoph Gerber于1986年发明的。相关知识点: 试题来源: 解析 扫描力显微镜 反馈 收藏