XRF的原理(X射线显微分析):用X射线(电子束)入射样品表面,由于每种元素的能级结构不同,因此激发的特征X射线光子能量也不同,通过测定试样X射线荧光光谱(X射线的)的波长或能量,就可以确定原子序数(元素的种类)。荧光X射线的波长随着原子序数的增大而减少。(深度1-3μm) X射线荧光光谱仪包括:波长色散型。。和能量...
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别...
（1）快速、高效：XRF技术可以在短时间内对大量样品进行快速分析，提高分析效率。（2）灵敏度高：XRF技术对低含量元素的检测限较低，可以满足多种应用场景的需求。（3）分辨率高：XRF技术可以区分相邻元素，实现高精度分析。（4）非破坏性：XRF分析不会对样品造成永久性损伤，适用于珍贵样品的分析。（5）样品制备简...
2.2 X光管的结构与工作原理 2.3 探测器 2.3.1 主要技术指标和作用 2.3.2 探测器的类型 2.4 光路系统 1 XRF基础知识 1.1 基本公式 式(1-4)是XRF定性定量分析的基础。通过物质所辐射的特征谱线的波长λ(或能量E),就可以知道原子序数为Z的元素存在,即可对物质进行定性判断;根据元素特征谱线的强度大小,可对物质...
XRF分析技术原理 第⼀讲 X 射线荧光及其分析原理 1、X 射线 X 射线是⼀种电磁波，根据波粒⼆相性原理，X 射线也是⼀种粒⼦，其每个粒⼦根据下列公式可以找到其能量和波长的⼀⼀对应关系。 E ＝hv=h c/λ 式中h 为普朗克常数，v 为频率，c 为光速，λ为波长。可见其能量在0.1 ~100（kev ...
1、X 射线荧光光谱分析概述 X 射线荧光光谱分析( X Ray Fluorescence,XRF)是固体物质成分分析的常规检测手段,也是一种重要的表面/表层分析方法。 诸多元素分析人员都会选择XRF光谱分析技术,因为它可以在PPM到100%的浓度变化范围中确定元素成分并将其量化。而且,它基本上不要求样本准备工作,也不会破坏样品, 彻底分析样...
X射线荧光光谱仪(简称:XRF)X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次...
了解XRF分析 X射线荧光（XRF）分析是一种非破坏性和非侵入性的技术，用于确定材料的元素组成。XRF分析的基本原理是基于高能X射线与样品中的原子之间的相互作用。XRF分析仪的工作原理 XRF分析仪的工作基于以下原理：当样品暴露于高能X射线时，样品中的原子会被激发并暂时移动到较高能量状态。当这些激发的原子返回到它们...