我做的是薄膜样品,平时测试用的是掠角入射,但是我的ZnO薄膜是(002)则择优趋向的,看文献说掠角入射无法测得择优趋向,而theta-2theta扫描可以测择优趋向,请问用那个扫描更好些,我的样品大概几百个nm厚。顺便问下XRDtheta-2theta扫描与掠角入射的具体区别!Lastedited