其特征衍射峰可以通过X射线衍射(XRD)技术进行分析。 UiO-66晶体结构中的特征衍射峰主要包括以下几个峰: 1. (100)峰:对应于晶体结构中(100)晶面的衍射峰,在2θ角度约为7.9°处。 2. (200)峰:对应于晶体结构中(200)晶面的衍射峰,在2θ角度约为15.8°处。 3. (220)峰:对应于晶体结构中(220)晶面的衍射...
对所制备的光催化剂进行了XRD分析,以测定SnS 2 NP S @UiO-66复合材料的晶体结构及结晶度等信息,如图4所示。UiO-66的特征衍射峰出现在2θ=7.2°,8.5°,26°,31°,44°,50.5°和57°,分别对应于UiO-66单晶的(111),(200),(600),(731),(933),(955)和(1242)晶面。SnS 2 材料中主要的特征衍射峰的位...
66的xrd图。由图可以看到在7.43 ° 和8.54 ° 处有明显衍射峰,分别代表uio ‑ 66的(111)和(002)晶面,表明催化剂成功合成。加入tfa晶体调节剂后,du ‑ x的出峰位置没有发生变化,说明tfa引入后对uio ‑ 66的晶体结构并没有影响,经对比发现,随着tfa量的增加,衍射峰强度逐渐增大,说明tfa的引入有利于uio ...
[0068]图1为实施例1‑5制备的MOF型羟基化UiO‑66有机染料吸附剂的XRD谱图,由图1可知,实施例1‑4制备的吸附剂在位于2θ=7.33°,8.47°,25.68°的特征峰分别与(111)、(002)和(224)晶面相对应。所合成的样品在特征峰位置及强度上均与其他相关报道基本一致,可见实施例1‑4采用溶剂热法引入羟基合成的MOF型...
此外,从XRD谱图中不能观测到Cu 氧化物或其他与铜相关的杂质峰,说明铜离子掺杂并没有改变材料的晶体结构,保留了原始UiO‑66结构的完整性。A‑MgAl‑‑CO ‑LDH的XRD检测结果如附图2所示,2θ=11.37°、22.93°、34.42°、61.75°处均有衍射峰,分别对应水滑石的(003)、(006)、(012)、(015)晶面,表明...
UiO-66(NH2)/壳聚糖复合膜的XRD表征: 图4是a)实施例1中UiO-66NH2;b)壳聚糖;c)实施例8中的壳聚糖复合膜的XRD图谱。图4中的a是UiO-66(NH2)的XRD图谱,其中7.4处的(111)晶面和8.5处的(002)晶面是UiO-66(NH2)的两个特征峰,与文献报道的一致,证明我们成功地合成了UiO-66(NH2)。图4中的b)是壳聚糖的XRD图...
西南石油大学化学化工学院, 四川 成都 610500) 摘 要:采用溶剂热法制备 NH2-UiO-66/BiOBr/Bi2S3(UBB)三元复合光催化剂,利用 X 射线衍 射(XRD),扫描电镜(SEM)表征该催化剂的晶体结构和微观形貌,为了评价其光催化活性及稳定性, 在可见光下催化降解有色染料亚甲基蓝(MB,20 mg/L)...
摘要：通过两步溶剂热法成功制备了UiO-66/BiVO4复合光催化材料,考察其对四环素(TC)的光催化降解性能.在模拟可见光下,当锆(Zr):铋(Bi)物质的量投料比为2:1时,对TC的光解效果最好(85.8%).对TC的总去除率分别比纯UiO-66和纯BiVO4提高27.1%和23.5%,降解速率是纯BiVO4的47.9倍.通过X射线衍射仪(XRD)...
实施例1制备的催化剂材料的XRD见图1,UIO-66经过碳化后,其特征峰消失;C@ZrO 2 对应于四方相的ZrO 2 ,其中在30.2°、50.3°和60.2°呈现出的三个强峰分别对应四方相ZrO 2 的(011)、(112)和(121)晶面。 实施例1步骤(2)制备的UIO-66材料的SEM图见图2(a),UIO-66的SEM图呈典型的八面体结构,通过碳化后,...
附图1给出了本案例所得的uio-66,铜纳米线与uio-66-cu的fesem图谱。附图2给出了本案例所得的uio-66与uio-66-cu的xrd图,表明样品呈现了良好的结晶性能,特征峰均有很好的展现。附图3给出了本案例所得的uio-66与uio-66-cu样品的uv-vis图,表明复合材料样品吸收曲线向右发生了红移,吸收增强。