飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、...
TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry），即飞行时间二次离子质谱，是二次离子质谱（SIMS）技术的一个分类。它结合了二次离子质谱和飞行时间分析技术，具有高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等特点，是目前高技术领域广泛使用的分析技术，可以分析元素、同位素、分子等信息。按照扫描方式，SIMS可以分...
5. 表面成像:TOF-SIMS技术可以实现表面成像,直观地观察样品表面的微观形貌和组成。
TOF-SIMS分析技术具有针对元素或分子的微区成像和深度剖析功能, 高质量分辨和高空间分辨特点,且离子源多样化,使其分析测试对象逐渐延伸到“小众”领域,如考古文化遗存、古董、油画、艺术品、古陶瓷等。 六、环境 TOF-SIMS下污染过程大气细颗粒物(PM2.5) TOF-SIMS的不同工作模式可以应用于气溶胶研究的不同方面,静态...
TOF-SIMS可以测离子含量吗? 不能。TOF-SIMS静态二次离子质谱测试离子强度,为定性测试,不能定量。 TOF-SIMS中,质谱测试溅射厚度是多深? 一般溅射厚度为2到3层原子,小于1nm。 灰分测试 已预约1119次 平均周期9天 |99.85%满意度 硫化氢分析仪 已预约1484次 ...
TOF-SIMS的原理及特点 飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS),是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子,根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于TOF-SIMS中离子飞行时间只依赖于它们的质量,故其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率很高,能实现对样品几乎无损的静态分...
TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱,在选用不同类型的离子源、可接受样品的尺寸、样品处理和预处理以至与其它超高真空技术结合等方面都有高度的灵活性,测试的样品不受导电性的限制,绝缘的样品也可以测试,但当样品尺寸过大需切割取样。取样的时候避免皮肤接触测试区域,以免引入外来污染影响到异物分析的结果。
仪器名称: 二次离子飞行时间质谱测试(TOF-SIMS) 型号: 检测项目: (1)深度分辨率:几个纳米;(2)空间分辨率:<一个微米;(3)质量分辨率:m/m5000(4)检测灵敏度:ppmppb;(5)绝缘层厚度为几个微米的样品质谱分析 设备性能: 应用范围: (1)样品组分和杂质元素纵向分布的深度剖析;(2)样品组分和杂质元素面分布的...
分析测试百科 tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪,它可以进行全元素分析,包括H,同时还可以分析元素的全部同位素。对有机物,无机物都能进行分析,而且对样品导电性能无任何要求,仪器的灵敏度高,可以检测出ppb~pp