下面是TOF-SIMS的工作原理: 1. 样品制备:首先将样品置于真空环境中,并对其表面进行清洁,以去除表面污染。 2. 溅射源:使用高能离子枪(如Ar+离子枪)向样品表面发射高速离子。这些离子与样品表面原子发生碰撞,将样品表面的原子或分子溅射出来。 3. 二次离子产生:溅射出来的原子或分子电离,产生二次离子。这些二次...
TOF-SIMS,飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 飞行时间二次离子质谱是非常灵敏的表面分析手段。飞行时间二次离子质谱凭借质...
静态SIMS中入射离子通量较低,从而降低了分析深度,使该技术更具表面特异性。它还能减少碎片,有利于分析分子种类。 由于不同的仪器可以采用不同的操作模式,下面将围绕所使用的仪器类型展开。 4飞行时间二次离子质谱仪ToF-SIMS 现代ToF-SIMS仪器一般使用液态金属离子...
一、基本原理 飞行时间-二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,简称TOF-SIMS)是一种基于质谱的表面分析技术。其原理是基于一次离子与样品表面相互作用(如下图)。高能一次离子束(如Ga+,Bi3+, Arn+,Cs+等)轰击样品表面,在轰击区域产生包含样品表面成分信息的带电粒子即离子,这些带电离子...
一、基本原理 飞行时间-二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,简称TOF-SIMS) 是一种基于质谱的表面分析技术。其原理是基于一次离子与样品表面相互作用(如下图)。高能一 次离子束(如Ga+ ,Bi3+ , Arn+ ,Cs+等)轰击样品表面,在轰击区域产生包含样品表面成分信息的 带电粒子即离子,这些...
TOF-SIMS技术的工作原理示意图如下：1. 一次离子源：发射一定能量的一次离子，通常采用Ar、Xe、O-、O2、Cs、Ga等离子源。2. 样品表面：一次离子束轰击样品表面，引发原子或原子团的溅射。3. 二次离子产生：在溅射过程中，表面原子或原子团吸收能量后电离，产生带电的二次离子。4. 质量分析器：二次离子进入质量...
TOF-SIMS工作原理, 视频播放量 621、弹幕量 0、点赞数 8、投硬币枚数 2、收藏人数 4、转发人数 0, 视频作者 测试云平台, 作者简介 测试云平台,生化环材领域自学平台!,相关视频:TOF质谱仪如何工作,【亚马逊31%】Listing优化细则-标题,XPS、Raman、AES、SIMS数据分析软
TOF-SIMS基本原理: TOF-SIMS质谱图: TOF-SIMS 二维Mapping图: TOF-SIMS 深度剖析以及3D重构: 上课时间 6月3号(周四),晚上19:30 课程参与方式 B站直播讲座 UP主:指南针学院 关注我们即可在上课时间观看公开课讲座。 福利抽奖 讲座开始后当晚举行线上幸运抽奖, ...