TEM 中分析的两种最常见的非弹性信号是通过电子能量损失谱 (EELS) 测量的能量损失电子,以及使用能量色散 X 射线谱(即 EDS 或 EDX 谱)检测到的特征 X 射线。 X射线光谱 X 射线光谱法是 TEM 或 STEM 中可以执行的最流行的化学分析之一。EDX 光谱提供了样品中存在元素的快照。通过非弹性散射产生的 X 射线有两...
透射电子显微镜（TEM）是一种功能强大的分析工具，可分析各种合成材料和天然材料。它能够通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息：能量色散X射线分析（EDX）、电子能量损失光谱（EELS）和高角度环形暗场成像（HAADF）。1.能量色散X射线分析（EDX）EDX可以从试样的激发特征X射线中获取化学信息。特征X射线被收集到ED...
利用TEM可以通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息:能量色散X射线分析(EDX)、电子能量损失光谱(EELS)和高角度环形暗场成像(HAADF)。 图1 STEM常用成像和光谱模式示意图,包括环形暗场(ADF)或高角度环形暗场 (HAADF)图像(取决于内角β1)、明场(BF)或角明...
在STEM模式下，电子光束被精确聚焦并扫描样品区域，类似于扫描电镜（SEM）的操作，而图像则通过透射电子的检测来生成，类似于透射电镜（TEM）。利用STEM模式，用户可以在高分辨率下同时观察到样品的内部结构和外部形态。此外，STEM模式还提供了其他信号源，如X射线和电子能量损失谱，这些信号可用于能量色散X射线光谱（EDX...
高分辨透射电子显微镜（HRTEM）：通过直接成像电子波的干涉图样，实现对晶体结构的原子级分辨率成像。电子衍射（Electron Diffraction）：分析电子束与晶体相互作用后产生的衍射图样，以确定材料的晶体结构。能量色散X射线光谱（EDS/EDX）：与TEM结合使用，通过分析特征X射线的能量来确定样品中元素的种类和分布。电子能量损失...
5能量色散X射线光谱(EDS/EDX) EDS结合TEM使用,可以检测电子与样品原子相互作用后产生的特征X射线。通过分析这些X射线的能量,可以确定样品中元素的种类和分布。这种方法适合进行局部的化学成分分析。 6电子能量损失谱(EELS) EELS用于测量电子在穿过样品时损失的能量,这种能量损失包含材料的化学成分、价态、电子结构等信息...
X射线能量色散谱(EDX)分析 电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术 电子三维重构3D-Tomography 技术参数 发射枪:肖特基场发射枪(FEG) 点分辨率:0.205 nm 线分辨率:0.102 nm 信息分辨率:0.14 nm STEM-HAADF分辨率:0.17 nm 物镜球差系...
EDS，即Energy Dispersive Spectroscopy，是能谱或能谱仪的正式名称；而EDX，则侧重于能谱学的层面。此外，我们也探讨了TEM与SEM在能谱分析上的差异。尽管TEM具有更高的分辨率，但这并不意味着其配有的能谱分辨率也必然高于SEM。实际上，同一厂家、同一时期的能谱产品，用于TEM的分辨率通常会低于SEM几个电子伏特。这...
TEM透射电子显微镜 厂家型号：赛默飞 TALOS F200XG2 （分辨率比拟球差电镜）技术参数：· X-FEG亮度：1.8×109A/cm2srad(200kV)；· 束斑电流：1.5nA@1nm束斑（200kV)；· TEM信息分辨：0.12nm；· STEM HAADF 分辨率：0.16nm；· EDX立体角：0.9srad；· 能量分辨率：Mn-Ka和10kcps时≤136eV(输出)...