测试在真空条件下进行,但谱图中常常会有较高的C和O元素,可能是由于在制样和测试过程中受到了真空泵油、导电胶或空气等污染,某些元件为了减少散射信号进入探测器,也会用碳在表面做涂覆分析时可将C、O等元素影响排除。) (注2:为保证拍摄效果,导电差或强磁性的样品需进行喷金、铂或碳膜等导电处理后才能拍摄,因...
SEM-EDS分析测试是一种材料表面分析技术，融合了扫描电子显微镜（SEM）和能量分散谱仪（EDS）两种工具。它主要用于探究材料表面的形态特征和化学成分，已经发展为材料科学、地质学、生物学、环境科学等领域不可或缺的分析方法。SEM-EDS测试技术可以呈现出高分辨率的表面图像和准确的化学成分信息，有助于研究人员深入了解...
SEM可作为电子探针与EDS或AES（俄歇电子能谱）相结合，分析微区内的元素组成，两者组合使用范围非常宽泛。例如断口分析和镀层厚度项目可更全面地分析断裂原因和镀层工业缺陷，进一步提升产品质量。本文将着重讲与SEM与EDS的组合使用。1. EDS应用范围 1）点分析：检测材料中微区的化学成份，是最常用的方式。测试效果如图...
1、有不良来料时，需要对样品进行形貌观察和表面元素分析，确认不良类型。2、有不同批次来料时，可以用EDS对新物料和原物料进行元素比对分析，确认新物料是否可投入生产。3、产品测试接触不良时，可以用EDS对接触不良位置进行扫描观察和元素分析，确认是否是由于异物或者表面磨损造成的不良。4、产品在生产或使用过程有异...
如果要分析材料微区成分元素种类与含量,往往有多种方法,打能谱就是我们最常用的手段。 能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点,最重要的是其价格相比于高大上的电镜来说更为低廉,因此能谱也成为了目…
SEM+EDS:材料分析神器 🌈 成分分析的利器:SEM与EDS能谱仪 扫描电镜(SEM)搭配能量散射X射线谱(EDS)能谱仪,是材料科学中不可或缺的分析工具。它们能够提供样品的定性、定量分析,帮助科学家们深入了解材料的微观结构。 🌈 EDS定点分析 EDS的定点分析功能非常强大,通过将电子束精确定位在样品上的特定点,可以自动进...
EDS需在真空室条件下用电子束轰击样品表面,激发物质发射出特征x射线,根据特征x射线的波长,可定性与半定量分析样品表面微区的成分(即元素周期表中B-U的元素)。需注意的是EDS只能测元素种类和含量,不能做化合物结构和种类的判定。 X谱线的特征波长与原子序数有规律性的关系,因而可鉴别元素的种类。
我们的SEM-EDS分析服务首先从微观形貌观察开始。通过高分辨率成像技术，我们能够揭示样品表面的细节，为客户提供清晰的微观结构图像。这一服务是理解材料特性和性能的基础，扫描电镜测试在此过程中发挥着至关重要的作用。元素成分分析 紧接着，我们的服务还包括元素成分分析，准确检测样品中的元素种类和含量。这一步骤对于...
而能量色散谱仪（EDS）则是配合电子显微镜使用的一种微区化学成分分析工具。它能探测到由样品被激发而产生的特征X射线，通过分析这些X射线的能量和强度，可以定性甚至定量地分析样品中的元素成分。简而言之，EDS可以帮助我们确定材料的化学组成信息。结合使用SEM和EDS，研究人员不仅可以观察样品表面精细的结构特征，还能...
现在的SEM一般都与EDS组合,利用EDS进行元素成分定性、定量分析;可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体,光电材料、通讯行业材料形貌/腐蚀/微污染分析,微区元素打点分析/特定元素沿深度方向的线扫描,元素的面分布。扫描电子显微镜的原理是基于电子和物质之间的相互作用。当高能入射电子轰击物质表面时,激发...