因而两者具有较大晶粒尺寸和高质量PVK薄膜(图4a,b), 较大的晶粒尺寸可以显著减小晶界并有效地抑制晶界之间的电荷复合。从XPS的结果显示,N-GQDs 和 N,Cl-GQDs 都可以钝化界面缺陷态。尤其是N,Cl-GQDs 中的Cl对化学活性Sn位点起作用,...
适用机型:DELL Precision 380 390 T3400 T3500工作站计算机 XPS 420 430 DIM9100 9200 Poweredge 430 440服务器 N375P-00 D525AF-00 L305P-00 DELL台式机DELL图形工作站DELL服务器电源批发TEL:13910098771 电源型号:L375P-00P/N:PS-6371-1DF2-LF 原装接口:24针*1,4针*1,IDE*4,SATA*2,6针*1,小软驱...
图2. 三功能NiCoP/NiO@CC核壳异质结电催化剂的制备流程图。 随后通过XRD验证了NiCoP/NiO的复合晶型结构(图4a),接着采用XPS测试分析了NiCoP/NiO的化学键及价态信息(图4b-e)。EPR测试来检测NiCoP/Ni和NiO的空位(图4f),在NiCoP/NiO和NiO中g值大约为2.0的EPR信号可以归因于未配对电子的存在,表明存在O或P空位。
研究者还使用非原位XPS表征SEI的成分:对于所有样品,均鉴定出了包括LiF,Li2O和Li2S在内的盐分解产物(图3b)。其峰强度随放电深度加深而增加,与之相反,C-C峰则会下降,这与普遍接受的SEI模型一致:即在接近SEI/Li金属界面处有更多的无机...
XPS是一种常用的表面分析技术,用于研究材料表面的元素组成、化学状态和电子结构。在XPS分析中,钴酸镍的Co 2p谱线可以提供关于钴元素在材料中的化学环境和电子状态的重要信息。Co 2p谱线通常包含多个峰,这些峰对应于钴元素的不同电子态。在NiCo2O4中,钴元素通常以Co^2+和Co^3+...
在XPS分析中,P轨道峰面积比值计算式常用于研究样品中的磷元素化学环境。 2. P轨道峰面积比值计算式简介 P轨道峰面积比值计算式是指通过对P2p和P2s峰的面积进行比较,来计算样品中磷元素的表面含量及其氧化态的一种计算方案。这一计算式在XPS分析中有着广泛的应用,能够提供磷元素的化学状态信息。 3. 计算式具体...
图3.ZnO2h@PVDF膜在改性之前和之后的（a）FT-IR光谱，（b）XRD图谱，（c，d）XPS光谱，（e，f）C1s峰，（g）不同元素的含量。图4.（a）孔径分布，（b）不同膜正/反面的静水角（带有斜线的一列是膜的正面），（c）P-ZnO2h@PVDF膜的滑移角，（d）P-ZnO2h@PVDF膜的不同低表面能盐水接触角（低...
Preventa Safety automation Preventa safety module XPSAF For emergency stop and switch monitoring Monitoring of a movable guard Emergency stop monitoring 2-channel wiring Emergency stop monitoring 1-channel wiring Can reach PL e/category 4 conforming to EN/ISO 13849-1 Can reach category 3 conforming ...
为了验证磷掺杂方法的有效性,进一步确定所得到材料的化学成分,通过X射线光电子能谱(XPS)对样品进行了评估。最终结果如图3所示。PCN-S样品,只有C、N、O和P元素被检测到,这表明有高纯度的材料。通过观察图3A和3B后,可以发现CN和PCN-S几乎相同的C1s和N1s光谱,表明P掺杂后的化学结构仍然保留。
a)静电吸附促进羟基磷灰石在低温沉积支架上沉积的机理。X 射线光电子能谱(XPS)测量一定浸泡时间后低温沉积支架上的 b Ca2p和c) P2p分布,及对应元素在熔融沉积支架上的分布d),e);f)羟基磷灰石沉积在熔融沉积和低温沉积支架表面的SEM图像和EDS分析。 5. 兔体内实验验证骨修复效果 ...