Open-Short 测试能快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷, 如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。 一般情况下OS在测试程序的最开始,测到OS失效后直接结束测试,将产品归为失效,再继续测试下一个芯片,减少测试时间。 Post OS: 在测试完全结束后再次进行OS测试 • 避免测试过程中的某些项目...
Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷,如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。 另外,在测试开始阶段,Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题,如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。 二.测试方法 Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会...
Open-Short Test 一.测试目的 Open-Short Test 也称为 ContinuityTest 或 Contact Test,用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测 试系统相应的通道在电性能上完成了连接,并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。 测试时间的长短直接影响测试成本的高低,而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早...
一.测试目的 Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test,用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接,并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。 测试时间的长短直接影响测试成本的高低,而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。Open...
芯片测试之开短路OS测试 失效分析 赵工 半导体工程师 2024年09月11日 08:59 北京 开短路测试open/shorttest也称为continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有开短路缺陷,例如晶圆阶段的制程缺陷,封装成品阶段打线缺陷,引脚ESD损坏,通常都会被放测试程序的最前面.它还能及时发现...
开短路测试(open_short_test)又叫continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路,及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好,探针卡或测试座是否有问题. x-D t b%}:j- 开短路测试的测试原理比较简单,分open_short_to...
【答案】： 优点 相对于DC串行/静态法，运行测试向量要快得多。缺点 datalog显示的结果信息有限，当fail产生时，我们无法直接判断失效的具体情况和产生原因。
OPEN/SHORT测试原理 对于IC测试来说,Open/Short测试都是必须的,而且在所有测试Item来说,都是最先的,所以要开始学习测试原理,就要从Open/Short开始学起。 1O/S的意义 O/S测试是验证是否有其他的pin与所测的pin有短路现象,或者所测pin是否开路。O/S测试可以节省测试时间,因为如果一颗IC如果已经O/S,就没有意义...
懂了OpenShort测试原理,可以算是半个芯片测试工程师了,来来来,我们一起学习一下啥叫OS测试#芯片测试 #芯片测试培训 #集成电路 - 上海顶策芯片测试培训于20240304发布在抖音,已经收获了3922个喜欢,来抖音,记录美好生活!