内容提示: JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22- A108F (Revision of JESD22-A108E, December 2016) JULY 2017 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by
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JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22- A108F (Revision of JESD22-A108E, December 2016) JULY 2017 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by IHS under license with JEDEC Licensee=SHENZHEN ACADEMY OF STANDARDIZATION 9972181Not for Resale,...
本公司生产销售湿热寿命老化箱 老化箱,提供湿热寿命老化箱专业参数,湿热寿命老化箱价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.湿热寿命老化箱 湿热寿命老化箱 品牌德瑞检测|产地广东|价格10800.00元|电源380V|测时间设置0～999Hr|重量318kg|工作室尺寸40*50cm|执行与满足标
A108修订版B包括了低温工作寿命(LTOL)以及高温栅偏(HTGB)应力条件,修订了高温应力的冷却需求,以及如果样品没有在允许的时间窗口中测试的情况下,应遵循的程序。 10.A108温度,偏置电压,以及工作寿命 JESD22-A109B Published:Nov-2011,Rewrite of total doc to point to Military standards. HERMETICITY: Most of ...
JESD22-A108-B是JESD22-A108-A的修订版。 标准内适用的文件: EIA/JESD47Stress-Test Driven Qualificatio n of In tegrated Circuits EIA/JEP 122Failure Mecha nism and Models for Silicon Semico nductor Devices(硅半导 体器件的失效机理和模型) 试验室温度应保持在特定温度的+/-5C内 最大电源电压应遵守...
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JEDEC JESD22-A108F-2017 2017年 总页数 14页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版 专题 扩展方舱通用 JEDEC JESD22-A108F-2017相似标准 JEDEC JESD220-2-2016通用闪存(UFS)卡扩展版本 1.0JEDEC JESD220-1A-2016通用闪存(UFS)统一内存扩展版本 1.1JEDEC JESD225-2016通用闪存存储 (UFS) 安全扩...
国际标准分类中,JESD22-A108F涉及到信息技术应用、半导体分立器件。在中国标准分类中,JESD22-A108F涉及到通用电子测量仪器设备及系统、基础标准与通用方法。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于JESD22-A108F的标准JEDEC JESD22-A108F-2017 通用闪存(UFS)卡扩展3.0版 JEDEC JESD22-A108D-2010 温度、偏置和使用寿命 ...
A108修订版B包括了低温工作寿命(LTOL)以及高温栅偏(HTGB)应力条件,修订了高温应力的冷却需求,以及如果样品没有在允许的时间窗口中测试的情况下,应遵循的程序。 10.A108温度,偏置电压,以及工作寿命 JESD22-A109B Published:Nov-2011,Rewrite of total doc to point to Military standards. HERMETICITY: Most of ...