商品参数 品牌: JEOL 是否支持加工定制: 不支持 规格: JEM-F200 商品类型: 自动进样场发射透射电镜 应用领域: 科研、实验室 成像方式: 高分辨率成像 功能: 自动进样、场发射、透射电镜观察 产品特点: 高分辨率、高稳定性、易操作 观察范围: 微观结构观察 光源类型: 电子束 真空系统: 高性能真空...
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。 皮米样品台驱动 JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到...
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束...
JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 详细介绍 EM-F200 场发射透射电子显微镜 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM...
日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜,实现了世界Z高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,Z高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界Z高的STEM-HAADF像分辨率。 详细介绍 JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 ...
· 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 · JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统...
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。 皮米样品台驱动 JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到...
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束...
品牌:日本电子 产地:日本 型号:JEM-F200 样本:来电或留言获取样本 在线咨询 留言咨询 电话咨询 收藏 AI问答 日本电子JEM-F200自动进样透射电镜环保节能价格? 可以检测什么? 日本电子JEM-F200自动进样透射电镜环保节能参数规格? 配套的耗材试剂? 日本电子JEM-F200自动进样透射电镜环保节能操作规程? 使用注意事项?