《IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES》的自引率近几年有所波动,2022年自引率为16.1%。 8.预警情况 《IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES》不在预警名单中,可放心投稿。 9.审稿周期 《IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES》的审稿周期:4.7月(非官方)。 10.版面费 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES是...
IEEE Transactions on Electron Devices出版有关电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模、设计、性能和可靠性的原创性和重要贡献,涉及绝缘体、金属、有机材料、微等离子体、半导体、量子效应结构、真空器件以及在生物电子学、生物医学电子学、计算、通信、显示器微机电、成像、微致动器、纳米电子、光电子、光伏、功率I...
期刊简称IEEE T ELECTRON DEV 参考译名《IEEE电子器件汇刊》 核心类别SCIE(2023版), 目次收录(超星),外文期刊, IF影响因子 自引率16.50% 主要研究方向工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气;PHYSICS, APPLIED物理:应用 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES《IEEE电子器件汇刊》(月刊). IEEE...
IEEE Transactions On Electron Devices(Ieee Transactions On Electron Devices)在中科院分区中位于2区,JCR分区位于Q2。审稿速度一般为 约4.7个月 ,且近两年没有被列入国际预警名单,您可以放心投稿。如果您需要投稿指导,可在线咨询我们的客服老师,我们将竭诚为您服务。
近日,国际微电子领域权威期刊IEEE Transactions on Electron Devices刊登了我院硕士生杜鹏作为第一作者的研究论文“Rational Superlattice Electron Blocking Layer Design for Boosting the Quantum Efficiency of 371 nm Ultraviolet Light-Emitting Diodes”(文章链接:https://ieeexplore.ieee.org/document/9578930) ...
分别以“Solution-Processed DyOx for Aging Diffusion ZnSnO Transistors and Application in Low-Voltage-Operating Logic Circuits”和“Eco-Friendly Fully Water-Driven Metal-Oxide Thin Films and Their Applications in Transistors and Logic Circuits”在国际微电子领域权威期刊IEEE Transactions on Electron Devices...
期刊评价 您选择的ieee transactions on electron devices的指数解析如下: 简介:IEEE T ELECTRON DEV杂志属于工程技术行业,“工程:电子与电气”子行业的优秀级杂志。投稿难度评价:影响因子不是很高,与此细分类别影响因子普遍偏低有关,但不代表容易投中,文章仍然需要一定的水平 审稿速度:较快,2-4周级别/热度:暗红评语...
IEEE TRANSACTIONS 一般的都不好中。。。如果楼主觉得自己的不错,完全可以试试啊。
IEEE Transactions on Intelligent Vehicles 投稿经历分享 文章内容主要是算法改进。 2023年12月6号 submit 2023年12月11号 awaiting reviewer scores 2023年12月28号 reject and resubmit 一个审稿人,6条意见,评价good,建议拒稿重投, 主编给拒… 失眠的鱼 IEEE Transactions on Fuzzy Systems投稿经历分享 在老师建议...
缩略题名ELECTRON DEVICES, IEEE TRANSACTIONS ON 缩略题名IEEE TRANS. ELECTRON DEVICES 缩略题名IEEE transactions on electron devices 交替题名I.E.E.E. transactions on electron devices ISSN:0018-9383 LCCN:2005214272 CODEN:IETDAI 同行评议:是 本刊收录在: Ei Compendex (2013年) ...