BS IEC 62373-1:2020的历代版本如下: 2023年 BS IEC 62373-1:2020 半导体器件 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试 MOSFET 的快速 BTI 测试范围IEC 62373 的这一部分提供了硅基金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 快速 BTI(偏置温度不稳定性)测试的测量程序。本文件还定义了...
IEC 62373-1:2020 购买 正式版 IEC 62373-1:2020相似标准 PNS IEC 62373-1:2021半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验BS IEC 62373-1:2020半导体器件金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试MOSFET的快速BTI测试T/CASAS 002-202...
IEC 62373-1-2020-2020 IEC 62433-1 CORR 1-2020-2020 IEC 62433-6-2020-2020 IEC 62435-8-2020-2020 IEC 62446-2-2020-2020 IEC 62541-10-2020-2020 IEC 62541-10 (REDLINE + STANDARD)-2020-2020 IEC 62541-14-2020-2020 IEC 62541-4-2020-2020 IEC 62541-4 (REDLINE + STANDARD)-2020-2020 IEC...
5 IEC 62373-1-2020 2020-07-01 English,French Semiconductor devices – Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) – Part 1: Fast BTI test for MOSFET - Edition 1.0 6 IEC 62351-4-2020 2020-07-01 English,French Power systems management and...
BS IEC 62373-1:2020 半导体器件 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试 MOSFET 的快速 BTI 测试 Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET ...