材料表面组织形态越精细,弱信号的检测灵敏度对FE-SEM的成像影响越大,以图6的Fe3O4磁性粉末为例,20万倍的情况下还看不出来ZEISS与其他品牌之间有很大的区别,但将图中微区进一步放大,很明显ZEISS FE-SEM在噪点的控制上表现更好。 出现这种差别的原因在于,虽然两者对弱信号的检测效率不在同一水平,但材料颗粒的尺度...
S8000 FE-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 *配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及 S8000G FIB-SEM S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供的图像质量,具有强大的扩展分析能力,...
(1)无磁性或弱磁性,不易潮解且无挥发性的固态样品,样品尺寸小于长80mm*宽60mm*高60mm,当样品尺寸过大需切割取样,粉末样品最好由客户选择对样品无污染的包装方式。 (2)取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置,取下样品后选择是否镀金处理,及时检测样成分品避免外来污染影响分析结果。 4、场发射扫描电子显...
场发射扫描电镜样品必须是具有一定化学、物理稳定性的干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末。在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形,无磁性、放射性和腐蚀性。粉末样品需要1g左右,如样品很少是几毫克也够用。下面介绍一般纳米粉末样品的制备。 超声波分散:纳米...
4、粉末样品中不能含有铁、钴、镍等具有磁性成分,且不易被磁化。超声分散,滴在铝箔上,干燥后送样。 5、需观察样品断面时,断面自己制备。 2021-12-28 12:43 News WIKI 相关搜索 剖析扫描电镜的类型使用方法及工作原理 目前,已经成功研制出的扫描电镜包括了:典型的扫描电镜、扫描透射电镜(STEM)、场发射扫描电镜...
主要用途是观察形貌(纳米材料),希望照片清晰点,也会做能谱。由于预算有限,只能从以下几款中选一款,请大家评价一下分辨率(放大10万倍会不会吃力)、设备稳定性、售后及维护方面,最好能推荐一下蔡司:sigam(热场)日本电子:JSM-7100F和JSM7610F(均为热场)日立:SU-5
仪器名称:场发射超高分辨率扫描电镜(FESEM)型号:SEM(Tescanmira3Zeisssigma500)EDS(OxfordX-MAX)检测项目:表面形貌观察(磁性、非磁样品、生物样均可) 详细介绍 仪器名称: 场发射超高分辨率扫描电镜(FESEM) 型号: SEM(Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS(OxfordX-MAX) 检测项目: 表面形貌观察(磁性、非磁样品、...
表面形貌观察(磁性、非磁样品、生物样均可), EDS能谱(点扫、线扫、面扫),elements Mapping,EBSD 场发射分辨率扫描电镜(FESEM)应用范围: 固体样品的微观形貌、结构,样品的微区元素成分、线分布、面分布,广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域。
SEM(Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS(OxfordX-MAX) 检测项目: 表面形貌观察(磁性、非磁样品、生物样均可), EDS能谱(点扫、线扫、面扫),elements Mapping,EBSD 应用范围: 固体样品的微观形貌、结构,样品的微区元素成分、线分布、面分布,广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域。 块体、...
S8000 FE-SEM的优点: 新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析 配置4个新一代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全方面 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境 ...