高角度环形暗场扫描透射电镜(HAADF-STEM)是一种基于透射电子显微镜技术的高分辨率成像技术。它通过聚焦的电子束撞击样品表面,产生散射电子,进而实现对材料微观结构的成像。在高角度环形暗场成像模式下,电子束的入射角度非常大,因此可以通过材料的原子序数和电子密度的变化来提高成像的分辨...
高角度环形暗场扫描透射电镜(HAADF-STEM)在科研中扮演着至关重要的角色。它凭借独特的透射电子显微镜技术,实现了对材料微观结构的高分辨率成像。该技术通过大角度入射的电子束,精准捕捉材料原子序数和电子密度的变化,从而显著提升了成像的清晰度与材料表征的准确度。在材料科学领域,HAADF-STEM能够深入剖析金属、半导体、陶...