高可靠元器件的使用环境、试验条件和失效机理 陈颖,孙博,谢劲松,康锐 (北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京l00083) 摘要:为了对高可靠元器件进行可靠性试验提供设计依据,对包括航天、军事和汽车等在内的高可靠应用 领域中的典型环境条件和要求进行了研究。这些环境条件包括高低温、温度循环、湿度、振动以及辐射等。