JEOL JEM-2100F 透射电子显微镜安全操作手册说明书 JEOL JEM-2100F Transmission Electron Microscope 1)Operator Safety:a.Careful when loading the system to avoid pinches to hands and fingers.b.Do not enter the area behind the system to avoid tripping over cables and damaging system facilities.c....
设备型号:JEM-2100F 设备厂商:日本JEOL 用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分 技术参数 1.点分辨率0.19nm 2.线分辨率0.14nm 3.加速电压:80,100,120,160,200kV 4.倾斜角25° 5.STEM分辨率0.20nm 6.最大放大倍数150万倍; 7.HAADF探头; 8.单、双倾样品台; ...
透射电子显微镜TEM..型号:TF20,Jeol 2100F测试项目:可测项目:形貌、点扫、线扫、mapping、衍射备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄样品要求:1. 样品状态粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需
透射电子显微镜(TEM) 型号:FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 测试项目: 可测项目:形貌、能谱点扫、能谱线扫、mapping、HAADF(STEM)、衍射 备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求: 1. 样品状态 粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制...
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品牌/型号:日本电子,JEOL 2100F 所在地区:广东省 仪器说明:我们目前尚未与暨南大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障: ...
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仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数99375次 服务周期收到样品后平均3.0-7.7工作日完成 立即预约 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 1. 样品状态 粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认。
场发射透射电子显微镜(TEM) 1.测试周期:5-10个工作日 2.测试仪器:JEM F200、Talos F200X, FEI Tecnai F20、 JEOL JEM 2100F 3.应用范围:TEM可对样品进行形貌观察或物相分析,可利用高分辨电子显微方法直接…