部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。 本书...
数字超大规模集成电路存储器电子工业出版社超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统美Bushnell Michael L美Agrawal Vishwani D蒋安平. 超大规模集成电路测试--数字,存储器和混 合信号系统[M]. 北京: 电子工业出版社,2005.BU SHN ELL M L , A GRAWAL V D. 超大规模集成 电路测试 ---数字 ,存储器和...
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