双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层,它不仅用于克服发射声束与反射声束的相互干扰和阻塞,而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,有效减少杂波。 由于双晶探头的发射部分和接收部分都带有延迟块,能使探伤盲区大幅减小,故双晶探头对表面缺陷的探伤十分有利...
双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层,它不仅用于克服发射声束与反射声束的相互干扰和阻塞,而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,有效减少杂波。 由于双晶探头的发射部分和接收部分都带有延迟块,能使探伤盲区大幅减小,故双晶探头对表面缺陷的探伤十分有利...
把普通商品化组合双晶直探头的延迟块平底面磨制成凹圆柱面与棒材曲面吻合,探头的隔声层与棒材轴向相同。 磨制成曲面后,探头原来的入射角已被改变,延迟块的高度也发生变化,因此需要经过试验来确定最佳检测条件(经试验,对于直径为φ40~60mm的钢棒,选用原始入射角为3°~6°的组合双晶直探头效果较好)。 以上两种方法...
7、超声波探伤仪双晶探头 装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成,使用垂直的纵波声束扫查工件。相对直探头而言,双晶直探头具有更好的近表面缺陷检出能力;对于粗糙或者弯曲的检测面,具有更好的...
1、采用双晶直探头检测时应垂直于堆焊方向进行扫查,探头的隔声层应平行与堆焊层方向。 2、如堆焊层表面条件严重影响从堆焊层侧进行超声波扫查时,应考虑从母材侧进行检测。 3、扫查灵敏度应在基准灵敏度基础上提高6dB。缺陷当量尺寸应采用6dB法确定。
主要检测工件表面缺陷缺陷吸声材料吸声材料3 3、探头的种类和结构、探头的种类和结构3) 3) 双晶探头(分割探头)双晶探头(分割探头)接口接口外壳外壳电缆线电缆线阻尼块阻尼块压电晶片压电晶片延时块延时块隔声层隔声层探伤区探伤区双晶探头有两块压电晶片,一块用于双晶探头有两块压电晶片,一块用于发射声波,一块用于接收...
即用普通商品化组合双晶直探头,使其隔声层与棒材轴向垂直放置,延迟块平底面磨制成凹圆柱面与棒材曲面吻合。这种方法能保持探头的原始入射角不变且磨制简单,但是由于声束与缺陷取向构成的角度关系以及反射条件不利,故其检测灵敏度较低,特别是不容易发现例如条带状的显微组织以及细长形的宏观缺陷。
⑵、扫查灵敏度应在基准灵敏度基础上提高6dB ⑶、采用双晶斜探头检测时应在堆焊层表面按90°方向进行两次扫查;采用双晶直探头检测时应垂直于堆焊方向进行扫查。进行扫查时,应保证分隔压电元件的隔声层平行于堆焊方向。 ⑷、缺陷当量尺寸应采用6dB法确定。 ? * 7、质量分级 * 第六部分 在用承压设备超声检测 * ...
双晶探头移动方向应与隔声层垂直。) ? c)确定底波降低缺陷的边界或指示长度时,移动探头(单直探头或双直探头),使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的40%。此时,探头中心移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心点即为缺陷的边界点。 * 4、缺陷评定规则 缺陷指示长度 a) 一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷...
第36页37⑷、检测前仪器和探头系统测定①、仪器-斜探头系统,测定前沿距离、K值和主声束偏离,调节或复核扫描量程和扫查敏捷度。②、仪器-直探头系统,测定始脉冲宽度、敏捷度余量和辨别力,调节或复核扫描量程和扫查敏捷度。⑸、检测过程中仪器和探头系统旳复核...