双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层,它不仅用于克服发射声束与反射声束的相互干扰和阻塞,而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,有效减少杂波。 由于双晶探头的发射部分和接收部分都带有延迟块,能使探伤盲区大幅减小,故双晶探头对表面缺陷的探伤十分有利...
把普通商品化组合双晶直探头的延迟块平底面磨制成凹圆柱面与棒材曲面吻合,探头的隔声层与棒材轴向相同。 磨制成曲面后,探头原来的入射角已被改变,延迟块的高度也发生变化,因此需要经过试验来确定最佳检测条件(经试验,对于直径为φ40~60mm的钢棒,选用原始入射角为3°~6°的组合双晶直探头效果较好)。 以上两种方法...
7、超声波探伤仪双晶探头 装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成,使用垂直的纵波声束扫查工件。相对直探头而言,双晶直探头具有更好的近表面缺陷检出能力;对于粗糙或者弯曲的检测面,具有更好的...
双晶直探头放在堆焊层一侧,使φ10mm平底孔回波幅度为满刻度的80%,以此作为基准灵敏度。 注意事项 1、采用双晶直探头检测时应垂直于堆焊方向进行扫查,探头的隔声层应平行与堆焊层方向。 2、如堆焊层表面条件严重影响从堆焊层侧进行超声波扫查时,应考虑从母材侧进行检测。 3、扫查灵敏度应在基准灵敏度基础上提高6dB...
即用普通商品化组合双晶直探头,使其隔声层与棒材轴向垂直放置,延迟块平底面磨制成凹圆柱面与棒材曲面吻合。这种方法能保持探头的原始入射角不变且磨制简单,但是由于声束与缺陷取向构成的角度关系以及反射条件不利,故其检测灵敏度较低,特别是不容易发现例如条带状的显微组织以及细长形的宏观缺陷。
双晶探头可以看作是两个探头(晶片)被隔声层分开,两个探头通常呈约8°的倾角,从而导致两个探头纵波区域的重叠,形成一个伪聚焦区。在聚焦区内,由于能量密度更高,因此缺陷检出性更好,其中聚焦区的深度等参数受限于晶片的倾斜角角度,一般是固定的。 相比常规超声波检测,超声波相控阵检测就比较复杂,通过对不同晶片的...
第36页37⑷、检测前仪器和探头系统测定①、仪器-斜探头系统,测定前沿距离、K值和主声束偏离,调节或复核扫描量程和扫查敏捷度。②、仪器-直探头系统,测定始脉冲宽度、敏捷度余量和辨别力,调节或复核扫描量程和扫查敏捷度。⑸、检测过程中仪器和探头系统旳复核...
扫查灵敏度比基准灵敏度提高 6dB;检测灵敏度2. 用大平底调节:将双晶直探头在板材无缺陷完好部位的一次反射波高度调整到满刻度的 50%,再提高 10dB作为基准灵敏度。扫查灵敏度比基准灵敏度提高 6dB。1. 探头沿垂直于板材压延方向,对板材进行100%平行线进行扫查。扫查方式2. 探头的移动方向应与探头的隔声层相...
新购探头须有探头性能参数说明书,新探头使用前应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。测定方法应按JB/T 10062的有关规定进行,并满足其要求。 1.6.3 检测前仪器和探头系统测定 (1)使用仪器——斜探头系统,检测前应测定前沿距离、K值和主声束偏离,调节或复核扫描量程和扫查灵敏度...
衰减、 缺陷、时基线、扫描、扫描范围、 扫描速度、水平线性、垂直线性、动态范围、脉冲重复频率、检测频率、回波频率、灵敏度、灵敏度余量、分辨力、闸门、衰减器、信噪比、增益、距离波幅曲线(DAC)、耦合、试块、标准试块、对比试块、探头、压电材料、晶片、隔声层、直探头、斜探头、探头入射点、探头角度、探头...