技术指标:1.1 分析元素范围:S-U1.2 同时可分析24个元素,五层镀层以上1.3 分析厚度检出限最高达0.005μm1.4 定位精度:0.02mm1.5 测量时间:5s以上1.6 计数率:0-8000cps1.7 Z轴升降范围:0-140mm1.8 图像联动系统,可编程,可实现单点,多点,网格多种控制1.9 X/Y平台可移动行程(选配)。工作环境要求:2.1 环境温度要...
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萤光X-RAY膜厚仪 特性: 1. 采用中文窗口操作系统,操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、 铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。 4. 油浸式微小焦点X线管,50KV管电压,由上而下垂直照射方式。 5. 采用多频分...
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