XPS图谱一般包括光电子谱线,卫星峰(伴峰),俄歇电子谱线,自旋-轨道分裂(SOS)等。其中自旋-轨道分裂(SOS)是指:由于电子的轨道运动和自旋运动发生耦合后使轨道能级发生分裂。对于l>0的内壳层来说(具有轨道角动量的轨道电子),将会发生自旋(s)磁场与轨道角动量(l)的耦合。总角动量j =| l ± s | 表示自旋轨道分裂。
SOS是指电子的轨道运动与自旋运动耦合后导致的轨道能级分裂。对于具有轨道角动量的轨道电子（l>0），SOS与电子的自旋(s)磁场和轨道角动量(l)耦合，形成总角动量j =| l ± s |。每个j值对应的简并度为2j+ 1。对于s亚壳层，不发生分裂；而对于p、d、f等亚壳层，SOS会将能级分裂成两个峰。对...
自旋轨道分裂 1 2020/11/26 5.0、XPS谱图的形式 XPS谱图的采集：XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料表面出射的电子的能量和数目 而得到的。XPS谱图的形式：光电子信号强度I随能量的变化关系(I~EB)；数据采集模式：全扫描谱(Surveyscan)：扫描能量范围宽（01100eV），灵敏度高(分辨力低)，...
3-(SOS) 自旋-轨道分裂是一初态效应。对 于具有轨道角动量的轨道电子, 将会发生自旋(s)磁场与轨道角动 量(l)的耦合。总角动量j= l s 。 对每个j值自旋-轨道分裂能级的简 并度=2j+1。 s轨道无自旋-轨道分裂–XPS中单 峰 p,d,f…轨道是自旋-轨道分裂的– XPS中双峰 双峰中低j值的结合能E B 较...
自旋-轨道分裂.PPT,第5章、谱图的一般特征 XPS谱图的初级结构 XPS谱图的次级结构 AES谱图的特征性质 5.0、XPS谱图的形式 XPS谱图的采集: XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料表面出射的电子的能量和数目而得到的。 XPS谱图的形式: 光电子信号强度I 随能量的
自旋轨道分裂 第5章、谱图的一般特征 1.XPS谱图的初级结构2.XPS谱图的次级结构3.AES谱图的特征性质 5.0、XPS谱图的形式 XPS谱图的采集：XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料表面出射的电子的能量和数目而得到的。XPS谱图的形式：光电子信号强度I随能量的变化关系(I~EB)；数据采集模式：全...
自旋轨道分裂 第5章、谱图的一般特征 1.XPS谱图的初级结构2.XPS谱图的次级结构3.AES谱图的特征性质 5.0、XPS谱图的形式 XPS谱图的采集：XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料表面出射的电子的能量和数目而得到的。XPS谱图的形式：光电子信号强度I随能量的变化关系(I~EB)；数据采集模式：全...