以下标准号中,哪个是指“电工电子产品环境试验第2部分:试验方法,试验A:低温试验”A.整机产品通用检验标准B.GB/T2423.2 2001C.GB/T2423.3 20
《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A: 低温》标准号:A.GB/T 2423.1-2008B.GB/T 2423.10-2019C.GB/T 2423.17
本低温试验方法细分为以下几种:…一非散热试验样品低温试验:・试验Ab,温度渐变。——散热试验样品低温试验:・试验Ad,温度渐变;・试验Ae,温度渐变,试验样品在整个试验过程通电。本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本...
1.初步检测。通过目视检查和(或)按相关规范要求进行功能检测来获知试验样品的初始状态。 2.条件试验。试验样品应按相关规范的详细规定在低温条件下暴露至规定的持续时间。如果有试验样品不能达到温度稳定的意外情况,整个试验持续的时间应该从试验样品通电时开始计算。通常这种情况是由有长时间工作循环的样品引起的。 3....
GB-T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A低温 星级: 24 页 GB-T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验A 低温 星级: 23 页 GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程 试验A 低温试验方法 星级: 10 页 GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法...
内容提示: 书 书犐犆犛19.040犓04中华人民共和国国家标 准犌犅 /犜2423.1—2008/犐犈犆6006821:2007代替 GB/T2423.1—2001电工电子产品环境试验第 2 部分:试验方法 试验 犃 :低温犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊 —犘...
本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品。对于非散热试验样品,试验Aa和Ab不违背早期发行的标准。 本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性。 这一低温试验不能用来评价试验样品对温
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A: 低温 发布于 2023-11-24 17:41・IP 属地广东 电子产品 电工 赞同添加评论 分享喜欢收藏申请转载 写下你的评论... 还没有评论,发表第一个评论吧 推荐阅读 电子元器件可焊性的测试方法及具体步骤 IC元器件...
GB/T 2423 的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验 Ab 和试验 Ad 与早期版本无实质性的差异。增加试验 Ae 的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。 本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下
“试验A: 低温和试 验B: 高温的 分 类代 号小写字母之间的 关系”( 见附录 NB); ——— 删除了第 章第 段中的 “对于非散热试 验 样品 ,”;11 ———第 章中最后两段的 内容移到1 4.1中; ———4.3标题“非散热试 验 样品 ”改为 “非散热试 验 样品 的试验”; ———6.2 最后一段原文...