电子探针X射线显微分析仪EPMA采用X射线荧光显微镜和电子探针X射线显微分析技术对样品进行X射线显微探针分析,继承了光学显微镜,X射线成像和X射线荧光谱技术测量元素。 实验室X射线-微探针-微探针,用光学显微镜X射线元素微量微量分析 使用显微镜,Y轴最大400mm,X轴无限大的型号(最大扫描面积150×150mm,大面积可拼接)最...
电子探针X射线显微分析仪EPMA，结合了X射线荧光显微镜和电子探针X射线显微分析技术，用于对样品进行X射线显微探针分析。它继承了光学显微镜、X射线成像和X射线荧光谱技术，用于测量元素。设备配备一台全景摄像头和两台放大倍数高达200倍的光学显微镜，可准确确定扫描区域，拥有自动锐度调整功能的中央光学显微镜与...
电子探针X射线显微分析仪EPMA是一种强大的科研工具，它结合了X射线荧光显微镜和电子探针技术，用于实现X射线显微探针分析。这款仪器继承了光学显微镜的观察能力，以及X射线成像和元素定量分析的传统，能够提供高精度的元素测量。它的扫描区域广阔，最大可达150×150毫米，且可拼接，具有200倍光学显微镜的高分辨...
电子探针显微分析(EPMA)的信号检测系统是X射线谱仪,其又可分为 和。A.波长分散谱仪(WDS)B.光电子能谱仪(XPS)C.能量分散谱仪(EDS)D.俄歇电子能谱仪
生产厂家:JEOL 日本电子 主要用途:固体材料成分的定性、定量分析及微观形貌观察,元素组成的点、线、面分析以及状态分析。 功能特点 ★ 配有三道波谱仪六块晶体(LiF/PETJ、TAP/LDE2、PETH/LiFH)和软X射线谱仪,可实现: 3Li~ 92U元素的定性、定量分析; ...
★软X射线具有高的能量分辨率,可对特定元素的化学结合状态进行分析。 技术参数 ● 二次电子分辨率/Resolution: LaB6:30kV —5nm;W :30kV—5nm ● 束流稳定性/Beam stability:±0.05%/h ● 束流/beam current:10^-12 ~10^-5 A ● 加速电压/Accelerating voltage: 0~30 kV ...
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生产厂家:JEOL 日本电子 主要用途:固体材料成分的定性、定量分析及微观形貌观察,元素组成的点、线、面分析以及状态分析。 功能特点 ★ 配有三道波谱仪六块晶体(LiF/PETJ、TAP/LDE2、PETH/LiFH)和软X射线谱仪,可实现: 3Li~ 92U元素的定性、定量分析; ...