CD测量范围 0.1~10μm CD重复性 3σ≤5nm or ≤±1 % SEM放大倍率 1000~150000 高纵横比接触孔图像 ≥12 品牌 Hitachi 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的...
型号 CD-SEM 规格 CD 加工定制 是 新旧程度 二手 技术方案 是 是否现货 是 用途 晶圆测量 适用晶圆尺寸 200nm,300nm 测量范围 50nm~2µm 重复性 ±1%或2nm 晶圆吞吐量 24/h 放大倍数 1000 ~ 300kx 加速电压 300~1600V 主机尺寸 1200*2007*1900mm 显示装置 600*1496*1850mm 品牌 ...
日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220适用于8英寸晶圆的监测,CD检测范围0.1~2.0μm,zui大吞吐量45wph,放大倍数1000~300,000。 设备尺寸和参数: 主机尺寸: 1200(W)*1930(D)*1850(H) mm, 1850kg 显示单元: 600(W)*1360(D)*1850(H) mm, 320kg 电源:535(W)*870(D)*1800(H) mm, 300kg 冷却水循环器...
We sell the used equipment, CD-SEM and others. Data Station for CD-SEM The Data Station is a networked central recipe management server. Terminal PC Software This software improves the operating efficiency of your CD-SEM. Wafer Surface Inspection System LS Series Wafer surface inspection system ...
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日立CD SEM 9380应用范围 23小时前 日立CD-SEM的技术参数主要包括以下几个方面: 分辨率与重复性:分辨率可达1.8nm至3nm,重复性为±1%或更低,确保测量精度。 晶圆尺寸与测量范围:支持200mm和300mm晶圆,测量范围广泛,从50nm到2μm。 加速电压与放大倍数:加速电压范围300V至16...
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CG6300提供更高的解析度、测量再现性以及高画质高解析度FEB测量装置(CD-SEM)CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度,并进一步提高了测量可重复性和图像画质。 电子显微镜线圈能够选择从对象材料反射出的二次电子和背向散射电子,实现BEOL制程*1的Via-in-trench*2和3D-NAND、DRAM工程中的深沟槽・洞底的尺寸...
日立cdsem说明书 日立cdsem蓝牙音响说明书: 一、注意事项 1、为了使用者正确使用播放器,确保播放器性能良好,请认真阅读并遵守: 2、切勿严重撞击主机。 3、切勿接触苯、稀释剂等化学药品。 4、请不要靠近强磁场、电场。 5、请避开直射光线或发热器具。 6、切勿自行拆卸、修理、改造。 7、骑车、驾驶汽车及摩托车...
🔍 探索日立CD-SEM S-8820,一款专为晶圆尺寸测量而设计的扫描电镜。📏 这款电镜支持8英寸和6英寸的晶圆,专为2至5英寸晶圆设计,满足不同需求。📐 CD测量原理采用光标和线轮廓测量,范围从0.1至10 μm,确保精确测量。🔢 测量重现性高达±1%或0.005 μm (3 sig-ma),确保测量的一致性和可靠性。📈...